因为基线噪声测量是最小检测限(MDL)计算的一部分，所以了解噪声的产生机理很重要 。在没有组分进入检测器的情况下，因为检测器本身及色谱条件波动(如固定相流失 、载气 、温度 、隔垫流失等 )，使基线在短时 间内产生的信号称为基线噪声或噪声。噪声应当在“正常”操作条件下测量 ，即连接色谱柱，并通以载气。例如，火焰离子化检测器 (FID)电位计的噪声或漂移f火焰关 闭)并不能反映检测器的实际性能．原因是在这样的测量中并不包含主要的噪声源。噪声通常由高频部分(来源于电子线路部分)和表现为波动和漂移的低频部分组成。图1为噪声的示意图，列举了在安捷伦6890气相色谱仪FID检测器上