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低偏置电流下大功率半导体激光器低频电噪声特性

发布日期:2011-05-08  浏览次数:1854

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文章摘要:1 引 言半导体激光器(LDs)在军事、T业、医疗、通信等高新领域被广泛应用,其质量和可靠性成为其研究热点之一。目前 ,评价半导体

1 引 言

半导体激光器(LDs)在军事、T业、医疗、通信等高新领域被广泛应用,其质量和可靠性成为其研究热点之一。目前 ,评价半导体激光器的可靠性的方法分为加速电老化和无损检测两种,电老化技术因为在对器件实施加速电老化的过程中,对质量好的器件会造成损伤,属于有损检测[1],因此,寻找一种有效的无损检测方法就显得尤为重要。在半导体激光器的光损检测方面,电导数技术[2,3]和低频电噪声特性[4卅]被应用于评价激光器的可靠性,然而,我们最近的实验发现 ,多数无铝器件的电导数曲线在阈值电流处未发现下沉 ,这就给利用电导数技术来评价半导体激光器的质量和可靠性带来了难度,从而也显示出了用低频电噪声特性来评价半导体激光器质量和可靠性的研究优势。目前,国内在半导体器件低频电噪声特性研究方面,西安电子科技大学庄奕琪等做了大量的理论和实验研究工作[8~1o],为我们研究半导体激光器的电噪声特性提供了借鉴

 
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