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红外焦平面阵列无效像元检测技术研究

发布日期:2011-05-06  浏览次数:440

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文章摘要:1引言凝视型红外焦平 面阵列 (IRFPA)是 目前最常用的红外探测器件 ,与第一代红外系统相比,它不仅提高了空间频率响应 ,而且也

1 引言

凝视型红外焦平 面阵列 (IRFPA)是 目前最常用的红外探测器件 ,与第一代红外系统相比,它不仅提高了空间频率响应 ,而且也提高了系统的灵敏度。但是由于制造材料、工艺等因素的影响(如材料的不均匀性、掩模误差、缺陷等),IRFPA不 可避 免地存在非均匀性和无效像元的问题。这使得系统输出图像的信噪比大大降低,严重地影响成像质量 。于是 ,无效像元的剔除是非常关键 的预处理工作。无效像元过判别会增加计算量且会损失图像信息;相反无效像元欠判别则又会影响剔除效果。献1-2-1基于正常像元和无效像元响应特性不同来判别无效像元,但是其阈值靠经验给出,通用性 不强。文献[3]根据无效像元的定义来分别判断死像元和过热像元。文献E4~fl提出一种基于滑动窗口的自适应域值无效像元检测方法,然而未考虑噪声刘红外图像的影响及过热像元的判别。

 
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