这个时期是用模拟设备测量噪声的，由于误差大，难手准确测出低频噪声谱，因而文献中给出的一些实睑曲线不芝有许多不确之处。八十年代后，微电子工业的迅速发餍推动了小尺寸MOS~ET特性;包括噪声的深入研究，同时使快速精确的计算机数字测噪系统得以问世，这绐建立统一的表面态噪声理论提供了可能。
发布日期：2011-05-06 浏览次数：1081
文章摘要：这个时期是用模拟设备测量噪声的，由于误差大，难手准确测出低频噪声谱，因而文献中给出的一些实睑曲线不芝有许多不确之处。八十
这个时期是用模拟设备测量噪声的，由于误差大，难手准确测出低频噪声谱，因而文献中给出的一些实睑曲线不芝有许多不确之处。八十年代后，微电子工业的迅速发餍推动了小尺寸MOS~ET特性;包括噪声的深入研究，同时使快速精确的计算机数字测噪系统得以问世，这绐建立统一的表面态噪声理论提供了可能。
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