1 引 言
微波晶体管的噪声参数测量取决于输入端口的反射系数，只有通过设置任意的源反射系数才能较准确地描绘出四个噪声参数的特征。通常需要使用源调配器在一定范围内调节滑块或探针的位置 ，进而改变被测器件输入端的反射系数。由于任何测试设备都不可避免地产生损耗，并产生一定量级的噪声，所以对于源调配器就不可能完全做到测量Smith圆图上的任何点，且在被测器件输入端口的超噪比不再固定不变 ，而是随着调 配器的调节过程产生变化。因此在测量噪声参数时就必须对被测件输入端口的超噪比或测量输出信号进行补偿运算。
发布日期：2011-05-06 浏览次数：444
文章摘要：1引言微波晶体管的噪声参数测量取决于输入端口的反射系数，只有通过设置任意的源反射系数才能较准确地描绘出四个噪声参数的特征
1 引 言
微波晶体管的噪声参数测量取决于输入端口的反射系数，只有通过设置任意的源反射系数才能较准确地描绘出四个噪声参数的特征。通常需要使用源调配器在一定范围内调节滑块或探针的位置 ，进而改变被测器件输入端的反射系数。由于任何测试设备都不可避免地产生损耗，并产生一定量级的噪声，所以对于源调配器就不可能完全做到测量Smith圆图上的任何点，且在被测器件输入端口的超噪比不再固定不变 ，而是随着调 配器的调节过程产生变化。因此在测量噪声参数时就必须对被测件输入端口的超噪比或测量输出信号进行补偿运算。
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