集成电路进入SoC时代，整个电子整机的功能被集成在一块芯片上。TI公司推出的高精度数据采集片上系统MSC1200系列芯片就将数模转换器、可编程增益放大器、高精度片上电压参考或外部差分电压参考、片上温度传感器、片上校准、高精度多通道模拟开关等模拟电路和增强型8051处理器内核、闪存、SRAM、I／O端口 、累加器、UART、计数器／定时器等数字电路集成在一个芯片上。在设计分析这种片上系统时，需要测试芯片的模拟性能。此时要将数模转换器(ADC)、放大器(Amplifier1、电压参考源、模拟开关等的性能作为整体系统性能(包括静态性能和动态性能)进行测试。静态性能测试较为简单，测试方法亦很成熟，但动态性能受很多因素影响，因此测试变得十分复杂。随着模拟电路性能，ADC、DAC精度的提高，对测试的要求也越来越高，全 面表征这些数据采集片上系统的参数多达数十项。