干涉式综合孔径辐射计是一种利用干涉测量技术来获得高分辨率遥感图像的被动微波成像仪，它利用稀疏的小口径天线阵列来实现大的实孔径天线的高分辨率。在远场条件下，干涉综合孔径辐射计的成像原理满足Van Cittert—Zernike(范希特一泽尼克)定理。所谓远场条件是指综合孔径辐射计与成像场景之间的距离。其中，D表示综合孔径辐射计的等效口面直径，为信号的波长。
发布日期：2011-05-06 浏览次数：734
文章摘要：干涉式综合孔径辐射计是一种利用干涉测量技术来获得高分辨率遥感图像的被动微波成像仪，它利用稀疏的小口径天线阵列来实现大的实
干涉式综合孔径辐射计是一种利用干涉测量技术来获得高分辨率遥感图像的被动微波成像仪，它利用稀疏的小口径天线阵列来实现大的实孔径天线的高分辨率。在远场条件下，干涉综合孔径辐射计的成像原理满足Van Cittert—Zernike(范希特一泽尼克)定理。所谓远场条件是指综合孔径辐射计与成像场景之间的距离。其中，D表示综合孔径辐射计的等效口面直径，为信号的波长。
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